XDM-Sarjan Tietojen Tallennuspenkki-yleismittari

Me TunnetaanYhtenäMaailmanjohtavista kiinan valmistajista ja toimittajista。Tervetuloa ostamaan tunnetut brändit OWON penkki-tyyppinen digitaalinen yleismittari, usb-yleismittari, wifi-yleismittari, langaton yleismittari, wifi-mittari ja halpa hinta meiltä.Meillä on monia tuotteita varastossa haluamallasi tavalla.Kysy tarjousta nyt.

Data-Logger-Tila

Tallennuksen aikana mittausarvo, joka mahdollistaa kirjautumiskeston (vähintään 5 ms) ja pituuden, pääsee sitten kaavioon tai taulukon tulokseen.

Ohje

Mitä oskilloskooppi koostuu?

Oskilloskooppion sähköisten mittauslaitteiden tyyppi, jolla voidaan saavuttaa erilaisia objektien mittauksia.Minkälaiset rakennekomponentit mahdollistavatyleisen oskilloskoopinTäydellisenMittausprosessin suorittamisen？Seuraavassa osassa kuvataanyleisen oskilloskoopinkomponentteja.

Näyttöpiiriin kuuluu oskillografiputki ja sen ohjauspiiri.eRityinen putkijatärkeä上的示波器putkioskilloskoopinosa.Oskillografiputki koostuu kolmesta osasta: elektronisesta aseesta, poikkeutusjärjestelmästä ja fosforinäytöstä.

Sähköinenase

Elektronista pistoolia käytetään generoimaan ja muodostamaan nopea, joukko sähköistä virtausta pommittaakseen ja valaisemaan fosforinäytön.Se koostuu pääasiassa filamentista F, katodista K, portista G, ensimmäisestä anodista A1 ja toisesta anodista A2.FilamentinLisäksielektrodin Rakenne在Metalli-SyleTeitä，Ja Niiden akselipysyvätsamalla akselilla。

Kun katodi on lämmitetty, elektronit voidaan lähettää aksiaalisuunnassa;ohjauselektrodi on negatiivinen potentiaali suhteessa katodiin, muuttamalla potentiaalia voi muuttaa elektronien lukumäärää pienen reiän ohjauksella, eli säätää näytön kirkkautta ruudulla.

NäytönRuudunkirkkauden parantamiseksi ilman，ettälektronisuihkuntaipuman herkkyysvähenee。Nykyaikaisessa oskilloskoopissa jälkikalibraatioelektrodi A3 lisätään myös poikkeutusjärjestelmän ja fosforinäytön väliin.

Taipumisjärjestelmä

Oscillograph-putkentaipumisjärjestelmä在PäasiasssaSähköstaattistapoikkeutustyyppiä上

Vastaavasti ne ohjaavat elektronisuihkua vaaka- ja pystysuunnassa.Kun elektronit liikkuvat taipumalevyjen välissä, jos taipumalevyyn ei ole jännitettä, taipumalevyjen välillä ei ole sähkökenttää, ja toisesta anodista tulevalle taipumahaaralle tulevat elektronit liikkuvat aksiaalisesti näytön keskelle .

Jos taipumalevyssä on jännite, taipumalevyjen välissä on sähkökenttä ja taipumahitsaan siirtyvät elektronit ohjataan näytön osoitettuun asentoon sähkökentän taipumalla.

Jos kaksi taipumalevyä ovat yhdensuuntaiset toistensa kanssa ja niiden potentiaaliero on nolla, elektronisuihku, jolla on taipumalevytilan nopeus υ, liikkuu alkuperäisessä suunnassa (aksiaalisuunnassa) ja osuu koordinaattien alkuperään fosforinäytöllä.

FluoresoivaNäytönOskilloskooppi

rasvalevy sijaitsee oskillografiputkenpäälläjasentehtävävänä上näyttääPoikkeutettuelektronisuihku havainnointia varten。fosforinseinämänsisänämämämäpäällystäänLumineivanMateriaaalin Kerroksella siten，Ettäfluoresoivaseula seula seula suula suurella noperudella nopeudella elektronilla vaikuttaa vaikuttaa fluoresenssin sijaintiin。

Paikan kirkkaus määräytyy elektronisuihkun lukumäärän, tiheyden ja nopeuden mukaan.Kun ohjauselektrodin jännite muuttuu, elektronielektronien elektronien määrä muuttuu ja valon tilan kirkkaus muuttuu.

OskilloskoopinKäytössäeisuositeltavaa sijoittaaaerittäinkirkasta kohtaa kohtaa oskilloskoopinnäytölle。Muutoin fluoresoiva aine polttaa pois pitkäaikaisen elektronin vaikutuksesta ja menettää kykynsä päästää valoa.

Edellä on lyhyt esittely yleisen oskilloskoopin kolmesta osasta, meidän on laadittava nämä kolme osaa ymmärtääkseen, yhdistämällä todellisen toiminnan kanssa voimme selvästi tietää, kuinka nämä kolme osaa toimivat alallaan.

188足彩比分预测Owon在Kasvattanutliiketoimintaansaantaansanäyttölaitteista上。Joten kun tulemme testaamaan ja mittaamaan laitteita, meillä on suuri etu näytön valmistuksessa ja kehityksessä.OWONinSDS-sarjan oskilloskooppiTuli Jo 10 Vuotta Sitten Suten Suurella 8TuumanNäytöllä。UUSIXDS-sarjaEdes Tukee Monikosketoustoimintaa，MikäSuurestiParantaaTyötehokkuutta。

KuinkaKäyttääKiinnitysmittaria？

Digitaalinenkiristinmittarion sähköinen testauslaite, joka yhdistää volttimittarin ja puristusmittarin.Kuten yleismittari, myösKiinnitysmittariläpäisee digitaalisen prosessin aiemmasta analogista tähän päivään asti.

KiinnitysmittariKoostuupääosinSähkömagneettisestaampeeristäjaLäpäisevästävirtamuuntajasta。Se在KannettavaVäline上，Joka voi suoraan mitata piirin vaihtovirtaa irrottamattapiiriä。Se on erittäin helppo käyttää sähköhuollossa ja sitä käytetään laajalti.

Pintamittariakäytettiin alun perin AC-virran mittaamiseen.Nykyisin yleismittarilla on kaikki toiminnot, joita se voi käyttää AC- ja DC-jännitteen, virran, vastuksen, kapasitanssin, lämpötilan, taajuuden, diodin ja jatkuvuuden mittaamiseen.

1. Valitse tarpeen mukaan A ~ (AC) tai A- (DC) -tiedosto.

2. paina liipaisintakiriställäkiristySmittarinPääNykyiseentestattavaan johtoon japidäpidäsitäkeskimmäisenKiristySpäänkohdalla。

3, kun mitattu virta on hyvin pieni, sen lukema ei ole ilmeinen, voit testata lankaa muutamien kierrosten aikana, kierrosten lukumäärän ollessa kierrosluvun lukumäärä leuan keskellä, sitten lukema = mitattu arvo / vuorojen määrä.

4. Mitattaessa testattava johdin on sijoitettava leukojen keskelle ja sulje leuat virheiden vähentämiseksi.

Huomautus

(1) Testattavan piirin jännite on pienempi kuin kiinnitysmittarin nimellisjännite.

(2) Suurjännitejohdon virran mittaamiseksi käytä eristäviä käsineitä, käytä eristettyjä kenkiä ja aseta eriste matolle.

(3) Leuat on suljettava tiukasti ilman elävää kytkentää.

（4）Jos ettiedämitattuavirta-arvoa manuaalisen alueen alueen puristustasolla，Aseta se Maksimialueelle

VINKKI:

Vihjeitä oskilloskoopin käytöstä

Oskilloskooppion laajalti käytetty elektroninen mittauslaite.Se voi muuntaa sähköisiä signaaleja, jotka ovat näkymättömiä näkymättömiin silmiin, jolloin ihmiset voivat helpommin tutkia erilaisia sähköisiä ilmiöitä.Oskilloskooppikäyttää kapeaa elektronisuihkejoukkoa, joka koostuu nopeista elektroneista pienten pisteiden muodostamiseksi fluoresoivalla aineella päällystetyllä näytöllä.Testattavan signaalin vaikutuksesta elektronisäde on kuin kynän kärki, joka voi kuvata näytössä olevan signaalin hetkellisen arvon käyrää.Oskilloskoopinavulla voit tarkkailla erilaisten signaalin amplitudien aaltomuotoja ajan mittaan.Voit myös käyttää sitä testata erilaisia tehotasoja, kuten jännite, virta, taajuus, vaihe-ero, amplitudi ja niin edelleen.

(1) YleinenoskilloskooppiSäätääKirkkaus-ja tarkennusnuppia minimoimaan pisteen halkaisija aaltomuodon kirkastamiseksi ja testivirheenpienentämiseksi。älä aiheuta valopisteen pysyvän hieman kiinteänä, muuten elektronisuihkupropingin pitäisi muodostaa pimeä piste fluoresoivalla näytöllä, vahingoittaa loisteputki.

(2) mittausjärjestelmät, kutenoskilloskoopit，Tietokoneet jne，Tietokoneet jne。Testattujen Elektronisten Laitteiden，Kuten Instrumenttien，Elektroniikkakomponenttien，Piirilevyjen Ja ja ja testattavan laitteenfirtalähteen，Maadoitusjohto，KytkettkettäyleiseenMaahan（Maahan）上的Maadoitusjohto。.

(3) Yleisenoskilloskoopinkotelo, signaalin sisääntulopään BNC pistorasia, anturin maadoitusjohdin ja AC220V-pistorasian maadoitusjohdinpää on liitetty.Jos laitetta ei ole liitetty maajohtoon ja anturia käytetään suoraan kelluvasignaalin mittaamiseen, laite tuottaa potentiaalisen eron maan suhteen;jännitearvo on yhtä suuri kuin koettimen maadoitusjohdon ja testattavan laitteen pisteen ja maan välinen mahdollinen ero.Tämä aiheuttaa vakavia vaaroja instrumentin käyttäjälle,oskilloskoopilleJAtestattavalle elektroniselle laitteelle.

(4) Jos käyttäjän on mitattava kytkentäteho (kytkentäteho primääri, ohjauspiiri), UPS (jatkuva virtalähde), elektroniset tasasuuntaajat, energiansäästölamput, taajuusmuuttajat ja muut sellaiset tuotteet tai muut elektroniset laitteet, joita ei voida on eristettävä AC220V: n virtaavasta kentästä.Käytettävädp100-suurjännitteisiäeristettyjäantureita上的Signaalitestauksessa。

Mikä在Ero Oskilloskoopin jaspektrianalysaattorinVälillä上？

Emme voi erottaaoskilloskoopinJAtaajuuksien analysaattorinvälistä eroa usein vekseleiden välttämiseksi, tässä artikkelissa lyhyesti yhteenveto seuraavista neljästä kohdasta - reaaliaikaisella kaistanleveydellä, dynaamisella alueella, herkkyydellä, tehon mittaustarkkuudella, verrata oskilloskooppia ja taajuuksien analysaattoria analyysi suorituskyky indikaattorit erottaa näiden kahden.

1 Reaaliaikainen kaistanleveys

Oskilloskooppeille kaistanleveys在YleensäsenMittausalue上。Spektrianalysaattorilla on kaistanleveyden määritelmät, kuten IF-kaistanleveys ja resoluution kaistanleveys.tässäkeskustelemmereaaliaikaikaikaikaikaikaikaikaikaikalevevedestä，joka pystyy analysoimaan signaalin reaaliajassa。

Spektrianalysaattoreille lopullisen analogisen如果:n kaistanleveyttä voidaan yleensä käyttää signaalianalyysin reaaliaikaisena kaistaleveydenä.Useimpien spektrianalyysien reaaliaikainen kaistanleveys on vain muutama megahertssi ja laaja reaaliaikainen kaistanleveys on yleensä kymmeniä megahertssejä.Laajin kaistanleveys FSW voi saavuttaa 500 MHz.Oskilloskoopin reaaliaikainen kaistanleveys on sen tehokas analoginen kaistanleveys reaaliaikaiselle näytteenotolle, tyypillisesti satoja megahertssejä ja jopa useita gigahertsejä.

Tässä on huomautettava, että useimmilla reaaliaikaisillaoskilloskooppeillaei ehkä ole samaa reaaliaikaista kaistanleveyttä, kun pystysuuntainen asteikon asetus on erilainen.Kun Pystysuora asteikko在Herkin，Reaaliaikainen KaistanleveysVäheneeYleensä。

Reaaliaikaisen kaistanleveyden osalta oskilloskooppi on yleensä parempi kuin spektrianalysaattori, joka on erityisen hyödyllinen joidenkin ultra-laajakaistaisen signaalianalyysin kannalta, erityisesti modulaatioanalyysissä on vertaansa vailla olevia etuja.

2 Dynaaminen Alue

森Dynaamisen alueen indikaattori vaihtelee maaritelmän mukaan.Monissa tapauksissa dynaamista aluetta kuvataan instrumentin mittaaman maksimi- ja minimisignaalin tasoerotuksena.Kun mittausasetuksia muutetaan, instrumentin kyky mitata suuria ja pieniä signaaleja on erilainen.Esimerkiksi, jos spektrianalysaattori ei ole sama vaimennusasetuksissa, suurien signaalien mittaamiseen liittyvä vääristymä ei ole sama.Tässä keskustelemme instrumentin kyvystä mitata samanaikaisesti suuria ja pieniä signaaleja eli oskilloskoopin optimaalista dynaamista aluetta ja spektrianalysaattoria sopivissa asetuksissa muuttamatta mitään mittausasetuksia.

Taajuusanalysaattoreille keskimääräinen melutaso, toisen kertaluvun vääristyminen ja kolmannen kertaluvun vääristyminen ovat tärkeimpiä tekijöitä, jotka rajoittavat dynaamista aluetta ottamatta huomioon lähietäisyydellisiä melu- ja häiriöolosuhteita, kuten vaihekohinaa.Laskenta Perustuu valtavirranspektrianalysaattoreidenmäärityksiin。Noin 90 dB（Rajoitettu toisenkertaluvunvääristymällä）的Sen Ihanteellinen Dynaaminen Alue。

Useimpia oskilloskooppeja rajoittaa AD-näytteenottobittien määrä ja kohinataso.Perinteisten oskilloskooppien ideaalinen dynaaminen alue ei yleensä ylitä 50 dB.(R & S RTO -oskilloskooppeja varten dynaaminen alue voi olla jopa 86 dB 100 kHz: n RBW: ssä)

Dynaamisen alueen kannalta spektrianalysaattorit ovat paremmat kuin oskilloskoopit.On kuitenkin huomattava, että tämä pätee signaalin spektrianalyysiin.Oskilloskoopin Taajuusspektri在Kuitenkin Sama Kehysdata上。Spektrianalysaattorin spektri ei useimmissa tapauksissa ole sama kehysdata, joten transienttisignaalin osalta spektrianalysaattori ei ehkä pysty mittaamaan sitä.Todennäköisyys，EttäOskilloskooppiLöytäätransienttisignaaleja（MissäsignaaliTäyttääDynaamisenAlueen）上载了Paljon Suurempi。

3 Herkkyys

Tässä käsiteltävä herkkyys viittaa minimisignaalin tasoon, jota oskilloskooppi ja spektrianalysaattori voivat testata.tämäindikaattori liittyyläheisestiinstrumentin astuksiin。

Jos oskilloskooppi, kun oskilloskooppi on asetettu herkimpään asemaan Y-akselilla, tavallisesti oskilloskooppi voi mitata minimisignaalin 1mV / div.Satamattomuuden lisäksi oskilloskoopin signaalikanavan tuottama melu ja jälki eivät ole.Vakauden aiheuttama melu on tärkein tekijä, joka rajoittaa oskilloskoopin herkkyyttä.

4 Virranmittauksen tarkkuus

TaajuusalueanyysissätehonmittaustarkkuusonErittäintärkeätekninenindikaattori。Oli kyseessä sitten oskilloskooppi tai spektrianalysaattori, tehonmittaustarkkuuden vaikutus on erittäin suuri.Seuraavat ovat tärkeimmät vaikutukset:

Oskilloskooppeille tehon mittaustarkkuuden vaikutus on: heijastuksen, vertikaalisen järjestelmän virheen, taajuusvasteen, AD-kvantisointivirheen, kalibrointisignaalin virheen aiheuttama porttimuutos.

Spektrianalysaattorille tehonmittaustarkkuuden vaikutus on: heijastuksen, viitetasovirheen, vaimenninvirheen, kaistanleveyden muuntovirheen, taajuusvasteen, kalibrointisignaalin virheen aiheuttamat porttimuutokset.

Tässä ei analysoida ja verrata vaikutusmääriä yksi kerrallaan.Vertaamme 1 GHz: n taajuussignaalin tehonmittausta.RTO-oskilloskoopin ja FSW-spektrianalysaattorin mittausvertailun avulla voimme nähdä, että oskilloskoopin ja spektrianalysaattorin tehonmittausarvot ovat 1 GHz.Vain noin 0,2dB ero, tämä on erittäin hyvä mittaustarkkuusilmaisin.Koska spektrianalysaattorin mittaustarkkuus 1 GHz: ssä on erittäin hyvä.

Lisäksi taajuusalueella oskilloskoopin taajuusvaste on myös erittäin hyvä, ei yli 0,5 dB 4 GHz: n alueella.Tästä näkökulmasta oskilloskooppi on jopa parempi kuin spektrianalysaattorin suorituskyky.

Yleisesti Ottaen Oskilloskooppeilla ja spektrianalysaattoreilla on omat etunsa taajuusalueen ananalysituloksissa。Spektrianalysaattorit Ovat Herkkyyden Ja Muiden Teknisten Indikaattoreiden Kannalta Parempia。Oskilloskoopit ovat parempia kuin spektrianalysaattorit reaaliaikaisella kaistanleveydellä.Kun mittaat eri tyyppisiä signaaleja, voit valita testivaatimusten ja instrumentin eri teknisten ominaisuuksien mukaan.

Määrittely

XDM	Mittausalue	taajuusalue	Tarkkuus: 1 vuosi ± (% lukemasta +% alueesta)
DC jännite	600mV, 6V, 60V, 600V, 1000V	/	0,02 ± 0,01
True RMS AC jännite	600mV，6V，60V，600V，750V	20 Hz - 50 Hz	2 + 0.10
		50 Hz - 20 kHz	0,2 + 0,06
		20 kHz - 50 kHz	1,0 + 0,05
		50 kHz -100 kHz	3,0 + 0,08
DC-virta	600,00 μA	/	0,06 + 0,02
	6.0000 MA		0,06 + 0,02
	60.000 mA		0,1 + 0,05
	600,00 mA		0,2 + 0,02
	6.000 a		0, 2 + 0 05
	10.0000 a		0,250 + 0,05
True RMS AC-virta	60.000 MA，600.00 MA， 6,0000 A, 10 000 A	20 Hz -45 Hz	2 + 0.10
		45 Hz -2 kHz	0,50 + 0,10
		2 kHz -10 kHz	2,50 + 0,20
vastus	600,00 Ω	/	0,040 + 0,01
	6,0000 kΩ		0,030 + 0,01
	60.000 kΩ		0,030 + 0,01
	600,00 kΩ		0,040 + 0,01
	6,0000MΩ		0,120 + 0,03
	60.000 MΩ		0,90 + 0,03
	100,00 MΩ		1,75 + 0,03
Dioditesti	3.0000 v	/	0,5 + 0,01
Jatkuvuus	1000 Ω	/	0,5 + 0,01
taajuuskausi	200 mV - 750 V	20 Hz - 2 kHz	0,01 + 0,003
		2 kHz - 20 kHz	0,01 + 0,003
		20 kHz - 200 kHz	0,01 + 0,003
		200 kHz - 1 MHz	0,01 + 0,006
	20 mA - 10 A	20 Hz - 2 kHz	0,01 + 0,003
		2 kHz -10 kHz	0,01 + 0,003
		Testivirta
Kapasitanssi	2 000 nF	200 nA	3 + 1,0
	20,00 nF	200 nA	1 + 0,5
	200,0 nF	2 UA	1 + 0,5
	2 000 μF	10 uA	1 + 0,5
	200 UF	100 uA	1 + 0,5
	10000μf	1 mA	2 + 0,5
Lämpötila	Lämpötila -Anturit Alle 2 Tuoteluokan Tuella- termoelementti (ITS-90 muuntaminen B / E / J / K / N / R / S / T-tyypin välillä) ja lämpöresistanssi (RTD-anturi muuntaminen Pt100- ja Pt385-tyypin välillä)
Data-logger -toiminto
Lokin kesto	5ms
Kirjautumispituus	1M pistettä